| 品牌 | 其他品牌 | 產地類別 | 進口 |
|---|---|---|---|
| 應用領域 | 石油,能源 |
ILT 5000 SED005WBS320W紫外光固化與光輻射危害及閃光燈測量系統
紫外光固化與光輻射危害及閃光燈測量系統的研究
光學分析的10多個進位制單位的動態範圍
Pico-ammeter·│▩│↟：10fA至1mA（從100fA至1mA校準）
無線通訊·│▩│↟：內建
使用者控制或自動·│▩│↟：範圍▩·、規零/暗零▩·、取樣率
4-20 mA輸出
15針D Sub和SMA輸入埠
“Set it & Forget It”遠端資料記錄
電源·│▩│↟：USB或內建充電電池組
多系統同時連續監測
包括DataLight II軟體和Labview取樣程式碼
NIST可追溯/ISO17025認證校準
取樣率高達100 Hz☁•，可程式設計
ILT 5000 SED005WBS320W紫外光固化與光輻射危害及閃光燈測量系統描述·│▩│↟：
紫外敏感危害探測器設計為在250至400 nm的寬紫外波段上具有高靈敏度☁•，用於紫外敏感危害研究
測量
測量範圍·│▩│↟：2.33e-8至2.33e+0 W/cm2
光譜範圍·│▩│↟：250–400 nm
配置·│▩│↟：ILT5000*☁•，SED005/WBS320/W（探頭）
*包括軟體
應用·│▩│↟：該檢測器經過特殊配置☁•，可準確測量穿過UV波段的寬波部分☁•，用於總UV靈敏度危險監測•↟₪✘◕。
濾光片和輸入光學元件是可拆卸的☁•，可以與探測器元件分開購買☁•，以允許濾光片和輸入光學元件互換•↟₪✘◕。
注·│▩│↟：配置中不含圖片中的平板電腦•↟₪✘◕。
