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紫外光固化與光輻射危害及閃光燈測量系統

紫外光固化與光輻射危害及閃光燈測量系統

更新時間₪▩₪│•:2022-07-13

訪問量₪▩₪│•:433

廠商性質₪▩₪│•:經銷商

城市₪▩₪│•:北京市

簡要描述₪▩₪│•:
ILT 5000 SED005WBS320W 紫外光固化與光輻射危害及閃光燈測量系統可對紫外光固化↟│·、光輻射危害及閃光燈測量等的研究分析↟╃│▩。
品牌其他品牌產地類別進口
應用領域石油,能源

ILT 5000 SED005WBS320W紫外光固化與光輻射危害及閃光燈測量系統

紫外光固化與光輻射危害及閃光燈測量系統的研究

光學分析的10多個進位制單位的動態範圍

Pico-ammeter₪▩₪│•:10fA1mA(從100fA1mA校準)

無線通訊₪▩₪│•:內建

使用者控制或自動₪▩₪│•:範圍↟│·、/↟│·、取樣率

4-20 mA輸出

15D SubSMA輸入埠

“Set it & Forget It”遠端資料記錄

電源₪▩₪│•:USB或內建充電電池組

多系統同時連續監測

包括DataLight II軟體和Labview取樣程式碼

NIST可追溯/ISO17025認證校準

取樣率高達100 Hz◕✘☁•,可程式設計

ILT 5000 SED005WBS320W紫外光固化與光輻射危害及閃光燈測量系統描述₪▩₪│•:

 

紫外敏感危害探測器設計為在250400 nm的寬紫外波段上具有高靈敏度◕✘☁•,用於紫外敏感危害研究

測量

測量範圍₪▩₪│•:2.33e-82.33e+0 W/cm2

光譜範圍₪▩₪│•:250–400 nm

配置₪▩₪│•:ILT5000*◕✘☁•,SED005/WBS320/W(探

*包括軟體

 

應用₪▩₪│•:該檢測器經過特殊配置◕✘☁•,可準確測量穿過UV波段的寬部分◕✘☁•,用於總UV靈敏度危險監測↟╃│▩。

光片和輸入光學元件是可拆卸的◕✘☁•,可以與探測器元件分開購買◕✘☁•,以允許濾光片和輸入光學元件互換↟╃│▩。

注₪▩₪│•:配置中不含圖片中的平板電腦↟╃│▩。

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